Toshiba обещает повышенную износоустойчивость 3D QLC NAND: 1000 циклов перезаписи
5 июль
Многие отраслевые эксперты с осторожностью относятся к флеш-памяти типа QLC NAND вследствие её низкой износоустойчивости, находящейся на уровне 100–150 циклов перезаписи/стирания при использовании обычных методов чтения и ECC. Согласно новому заявлению Toshiba, выходящие в следующем году микросхемы 3D QLC NAND флеш-памяти смогут выдерживать до